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三維光學(xué)輪廓儀
產(chǎn)品分類(lèi)
Sensofar三維輪廓儀微觀(guān)世界多模態(tài)測(cè)量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿(mǎn)足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar:專(zhuān)注工業(yè),高效檢測(cè) Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿(mǎn)足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar 輪廓儀:微觀(guān)檢測(cè)好幫手 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿(mǎn)足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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BEUKER光學(xué)輪廓儀:高效表面分析方案? BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀提供穩(wěn)定的表面形貌測(cè)量方案,適用于科研與工業(yè)檢測(cè)。其模塊化設(shè)計(jì)支持多種測(cè)量需求,操作簡(jiǎn)便,數(shù)據(jù)可靠
更新時(shí)間:2025-10-21
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BEUKER白光干涉儀:表面測(cè)量的可靠工具? BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀采用非接觸式測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析。其光學(xué)系統(tǒng)基于白光干涉原理,可清晰呈現(xiàn)樣品表面的三維形貌,適用于半導(dǎo)體、光學(xué)元件、精密加工等領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2025-10-21
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BEUKER光學(xué)輪廓儀:高效測(cè)量微納結(jié)構(gòu) BEUKER三維測(cè)量白光干涉光學(xué)輪廓儀為微納尺度表面檢測(cè)提供高效解決方案。其模塊化設(shè)計(jì)支持靈活配置,滿(mǎn)足多樣化測(cè)量需求
更新時(shí)間:2025-10-21
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