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臺式電鏡&臺階儀&原位分析
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澤攸臺式掃描電鏡跨學科研究觀察平臺?現代科研強調交叉融合,不同學科的研究者常需共享微觀數據。但因設備差異、操作習慣不同,跨學科合作中的“觀察鴻溝”普遍存在。澤攸ZEM15臺式電子顯微鏡以“通用化+易操作”為設計理念,為跨學科研究提供了統(tǒng)一的微觀觀察平臺。
更新時間:2025-10-30
產品型號:ZEM15
瀏覽量:56
澤攸臺式掃描電鏡日常檢測的穩(wěn)定輸出工具?工業(yè)檢測中,設備的穩(wěn)定性比“偶爾的超高表現”更重要。每天重復檢測相似樣品,能否始終保持一致的成像質量,直接影響檢測結果的可靠性。澤攸ZEM15臺式電子顯微鏡以“長期穩(wěn)定+易維護”為特點,成為日常檢測的可靠選擇。
更新時間:2025-10-30
產品型號:ZEM15
瀏覽量:29
澤攸掃描電鏡生物樣品觀察的低損傷平臺生物樣品的微觀觀察常面臨制樣復雜、易損傷的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)電鏡需高真空環(huán)境,樣品需干燥、固定或鍍膜,可能破壞原始結構(如細胞突觸、微生物鞭毛)。澤攸ZEM15臺式電子顯微鏡以“低真空+溫和制樣”為特色,為生物領域的研究提供了更接近生理狀態(tài)的觀察方案。
更新時間:2025-10-30
產品型號:ZEM15
瀏覽量:31
澤攸掃描電鏡科研協(xié)作的標準化觀察工具 機構科研協(xié)作中,微觀數據的可比性是影響成果轉化的關鍵。不同實驗室因設備型號、參數設置差異,同一樣品的成像結果可能不一致,導致分析偏差。澤攸ZEM15臺式電子顯微鏡以“標準化+兼容性”為設計核心,為科研協(xié)作提供了統(tǒng)一的微觀觀察語言。澤攸掃描電鏡科研協(xié)作的標準化觀察工具?
更新時間:2025-10-30
產品型號:ZEM15
瀏覽量:26
澤攸掃描電鏡工業(yè)質檢的微觀缺陷篩查工具?精密制造中,微觀缺陷(如表面劃痕、顆粒污染、焊錫空洞)直接影響產品可靠性。傳統(tǒng)質檢依賴人工目檢或離線電鏡檢測,效率低且漏檢率高。澤攸ZEM15臺式電子顯微鏡以“在線化+高分辨”為優(yōu)勢,為工業(yè)質檢提供了高效的微觀缺陷篩查方案。
更新時間:2025-10-30
產品型號:ZEM15
瀏覽量:25
澤攸掃描電鏡高校教學的微觀觀察實踐平臺?澤攸掃描電鏡高校教學的微觀觀察實踐平臺理工科教學中,微觀世界的直觀呈現是理解抽象理論的關鍵。傳統(tǒng)電鏡因操作復雜、維護成本高,常被限制為“演示型設備”,學生參與度有限。澤攸ZEM15臺式電子顯微鏡以“低門檻+強交互”為設計導向,為高校教學提供了可操作的微觀實踐平臺。
更新時間:2025-10-30
產品型號:ZEM15
瀏覽量:24