澤攸臺階儀高精度測量得力助手

產(chǎn)品簡介

澤攸臺階儀高精度測量得力助手
對于需要較高測量精度的場景，澤攸臺階儀憑借其精細的設(shè)計和穩(wěn)定的性能，能提供可靠的測量數(shù)據(jù)，適合科研機構(gòu)和高精度制造企業(yè)使用。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-21

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：133

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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對于需要較高測量精度的場景，澤攸 ZY - 1000 臺階儀憑借其精細的設(shè)計和穩(wěn)定的性能，能提供可靠的測量數(shù)據(jù)，適合科研機構(gòu)和高精度制造企業(yè)使用。

澤攸臺階儀高精度測量得力助手

產(chǎn)品細節(jié)

機身設(shè)計注重穩(wěn)定性，底部設(shè)有防震腳墊，減少外界振動的影響。操作界面采用觸摸屏設(shè)計，可直觀設(shè)置各項參數(shù)，支持自定義測量程序，方便針對不同樣品保存測量方案。樣品臺配備微米級調(diào)節(jié)旋鈕，能精準調(diào)整樣品的位置，確保測量點對準。測量探頭配有保護蓋，閑置時可有效防塵防潮。

產(chǎn)品性能

該臺階儀的測量分辨率較高，能捕捉到微小的臺階高度變化和表面凹凸細節(jié)。采用閉環(huán)控制的傳動系統(tǒng)，探頭移動的定位精度較好，多次測量同一位置的偏差較小。它具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能，可對多組測量結(jié)果進行平均值、最大值、最小值的計算，便于分析樣品的整體狀況。對光學鏡片、半導體晶圓等高精度表面的測量效果較好。

用材講究

測量探頭采用特殊的寶石材料，硬度高且耐磨性強，保證了長期高精度測量的穩(wěn)定性。設(shè)備內(nèi)部的光學傳感器選用高靈敏度元件，能精確感知探頭的微小位移。樣品臺采用天然花崗巖材質(zhì)，具備良好的穩(wěn)定性和抗震性，確保測量過程中樣品臺自身的形變極小。

參數(shù)詳情

參數(shù)項	具體數(shù)值
測量范圍	0 - 1000μm（臺階高度）
分辨率	可滿足高精度臺階測量需求
定位精度	±1μm（樣品臺移動）
數(shù)據(jù)存儲	可存儲 1000 組測量數(shù)據(jù)
電源要求	220V±10%，50Hz

廣泛用途

在半導體晶圓制造中，可測量光刻膠臺階、蝕刻深度，為晶圓加工工藝的優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。在光學元件生產(chǎn)中，能檢測透鏡表面的曲率臺階、鍍膜厚度，保障光學元件的成像質(zhì)量。在精密儀器研發(fā)中，可測量微小機械結(jié)構(gòu)的臺階尺寸和表面粗糙度，確保儀器的正常運行。

使用說明

設(shè)備需放置在恒溫恒濕的實驗室環(huán)境中，避免陽光直射和氣流干擾。使用前對設(shè)備進行校準，按照說明書的步驟用標準樣品調(diào)整測量精度。放置樣品時，使用專用的樣品座，確保樣品與樣品臺緊密貼合。通過觸摸屏設(shè)置詳細的測量參數(shù)，包括測量路徑、采樣間隔等，啟動測量后耐心等待完成。測量數(shù)據(jù)可導出至電腦進行進一步分析，設(shè)備使用后需關(guān)閉電源，蓋上防塵罩。

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