布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀科研測量好搭檔

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀科研測量好搭檔
在科研實(shí)驗(yàn)中，精準(zhǔn)把握材料表面微觀形貌至關(guān)重要。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學(xué)輪廓儀，憑借實(shí)用設(shè)計(jì)與穩(wěn)定性能，成為科研人員的得力助手。

產(chǎn)品型號：

更新時(shí)間：2025-10-21

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：176

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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在科研實(shí)驗(yàn)中，精準(zhǔn)把握材料表面微觀形貌至關(guān)重要。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學(xué)輪廓儀，憑借實(shí)用設(shè)計(jì)與穩(wěn)定性能，成為科研人員的得力助手。

布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀科研測量好搭檔

產(chǎn)品細(xì)節(jié)

ContourGT - K 機(jī)身設(shè)計(jì)緊湊，能輕松融入實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。操作面板布局清晰，按鍵標(biāo)識易懂，搭配高清顯示屏，操作人員可快速完成參數(shù)設(shè)置。樣品臺采用精密導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)，移動(dòng)平穩(wěn)，可靈活調(diào)整樣品位置，確保測量區(qū)域精準(zhǔn)。設(shè)備光學(xué)系統(tǒng)封裝嚴(yán)密，有效隔絕外界灰塵與雜光干擾。

產(chǎn)品性能

該輪廓儀融合白光干涉與光學(xué)成像技術(shù)，可清晰呈現(xiàn)樣品表面三維形貌。測量過程中運(yùn)行穩(wěn)定，數(shù)據(jù)采集連續(xù)，多次測量結(jié)果一致性較好。對光滑與粗糙表面均有良好適應(yīng)性，能滿足不同材料的測量需求。測量范圍可靈活調(diào)節(jié)，兼顧小區(qū)域精細(xì)檢測與大面積掃描。

用材講究

核心光學(xué)元件選用高透光率玻璃，減少光線損耗，保證成像清晰。機(jī)械傳動(dòng)部件采用耐磨合金材料，延長使用壽命，維持運(yùn)動(dòng)精度。設(shè)備外殼采用防腐金屬材質(zhì)，保護(hù)內(nèi)部部件，適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室多樣環(huán)境。

參數(shù)詳情

參數(shù)項(xiàng)	具體數(shù)值
橫向分辨率	適配常規(guī)科研測量需求
縱向測量范圍	多檔位可選
樣品臺尺寸	200mm×150mm
測量速度	隨樣品情況可調(diào)
數(shù)據(jù)接口	支持 USB、以太網(wǎng)連接

廣泛用途

適用于材料科學(xué)研究，可測量薄膜厚度、表面粗糙度；在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，助力觀察細(xì)胞表面形貌；也可用于光學(xué)元件表面質(zhì)量檢測，為科研論文提供可靠數(shù)據(jù)。

使用說明

使用前檢查設(shè)備連接是否正常，放置于平穩(wěn)無震工作臺。樣品需清潔干燥，輕放于樣品臺并固定。根據(jù)樣品特性設(shè)置測量參數(shù)，啟動(dòng)程序后等待完成。測量中避免觸碰設(shè)備，結(jié)束后及時(shí)清理樣品臺，定期校準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)。布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀科研測量好搭檔

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