在科研儀器國產(chǎn)化浪潮中，澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡憑借其高性價(jià)比與易用性，成功打破傳統(tǒng)大型電鏡的市場壟斷，成為高校、企業(yè)與檢測機(jī)構(gòu)的優(yōu)選設(shè)備。臺(tái)式掃描電鏡

產(chǎn)品性能梯度設(shè)計(jì)

ZEM系列包含ZEM15、ZEM15C、ZEM18與ZEM20四款型號(hào)，覆蓋從基礎(chǔ)教學(xué)到科研的需求：

• ZEM15：入門級(jí)設(shè)備，分辨率15納米，適合材料表面形貌的初步觀察。

• ZEM15C：升級(jí)版，分辨率提升至10納米，增加BSE探測器與觸摸屏操作。

• ZEM18：中端機(jī)型，分辨率8納米，支持低真空模式觀測不導(dǎo)電樣品。

• ZEM20：旗艦產(chǎn)品，分辨率4納米，集成原位實(shí)驗(yàn)功能與EDS接口。

核心用材與可靠性保障

• 真空系統(tǒng)：采用分子泵+離子泵復(fù)合抽氣結(jié)構(gòu)，極限真空度達(dá)10?? Pa，減少樣品污染風(fēng)險(xiǎn)。

• 電子槍：鎢燈絲與六硼化鑭燈絲可選，滿足不同分辨率與壽命需求。

• 防震設(shè)計(jì)：設(shè)備底部配備主動(dòng)隔震模塊，可抵御0.5Hz-100Hz頻率的振動(dòng)干擾。

典型參數(shù)對(duì)比表

多行業(yè)應(yīng)用案例

• 教育領(lǐng)域：某高校材料學(xué)院引入ZEM15C后，學(xué)生可自主完成金屬晶粒度分析與斷口形貌觀察，實(shí)驗(yàn)課時(shí)效率提升40%。

• 半導(dǎo)體行業(yè)：某芯片廠商利用ZEM20的EDS擴(kuò)展功能，快速定位封裝材料中的氯元素污染源，將產(chǎn)品良率提高15%。

• 地質(zhì)勘探：某研究所通過ZEM18的低真空模式，直接觀測未噴金的巖石薄片，揭示礦物顆粒的嵌布關(guān)系。

用戶友好型設(shè)計(jì)

• 操作界面：全中文觸摸屏軟件，支持手勢(shì)縮放與圖像標(biāo)注。

• 維護(hù)便利性：模塊化設(shè)計(jì)使得燈絲更換、真空泵檢修等操作可在30分鐘內(nèi)完成。

• 售后服務(wù)：提供72小時(shí)響應(yīng)的遠(yuǎn)程支持與每年一次的免費(fèi)上門保養(yǎng)。

ZEM系列電鏡通過梯度化產(chǎn)品布局與全生命周期服務(wù)，成為推動(dòng)微觀分析技術(shù)普及的重要力量。