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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
ContourX-500BEUKER三維光學(xué)輪廓儀工業(yè)質(zhì)檢高效工具
                    



產(chǎn)品簡介
                BEUKER三維光學(xué)輪廓儀工業(yè)質(zhì)檢高效工具在電子、汽車零部件等工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)檢環(huán)節(jié),快速且準(zhǔn)確的微觀測量是把控產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。布魯克 ContourX-500 憑借適配工業(yè)場景的性能與便捷操作,成為生產(chǎn)線質(zhì)檢工位的實用選擇。
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參數(shù)項  | 具體數(shù)值  | 
橫向分辨率  | 最高可達 0.14μm  | 
縱向分辨率  | 低至 0.1nm  | 
縱向測量范圍  | 0.1nm-10mm  | 
樣品臺尺寸  | 150mm×150mm  | 
樣品臺承重  | 5kg  | 
連續(xù)測量效率  | 單樣品平均檢測時間<2 分鐘  | 
工業(yè)對接協(xié)議  | 支持 Modbus、Profinet  | 
數(shù)據(jù)存儲容量  | 本地可存 1000 組數(shù)據(jù)  | 
工作溫度  | 15-30℃  | 
相對濕度  | 20%-70%(無冷凝)  | 
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀工業(yè)質(zhì)檢高效工具
公司地址:北京市房山區(qū)長陽鎮(zhèn)
公司郵箱:qiufangying@bjygtech.com掃碼加微信
            	
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