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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
ContourX-100BEUKER三維光學(xué)輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎(chǔ)設(shè)備
                    



產(chǎn)品簡(jiǎn)介
                BEUKER三維光學(xué)輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎(chǔ)設(shè)備在小型五金廠、電子配件廠等小型制造企業(yè),布魯克 ContourX-100 以低成本、易維護(hù)的優(yōu)勢(shì),成為產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)的入門(mén)級(jí)設(shè)備,幫助企業(yè)把控基礎(chǔ)生產(chǎn)質(zhì)量。
產(chǎn)品分類(lèi)
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎(chǔ)設(shè)備
參數(shù)項(xiàng)  | 具體數(shù)值  | 
橫向分辨率  | 最高可達(dá) 1μm  | 
縱向分辨率  | 低至 5nm  | 
縱向測(cè)量范圍  | 5nm-3mm  | 
樣品臺(tái)尺寸  | 80mm×80mm  | 
單次測(cè)量時(shí)間  | 約 3-5 分鐘(標(biāo)準(zhǔn)參數(shù))  | 
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)  | 支持 SD 卡(最大 32GB)、本地存 200 組  | 
對(duì)比功能  | 支持自定義標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù),自動(dòng)對(duì)比  | 
電源要求  | 220V±10%,50Hz  | 
工作溫度  | 15-32℃  | 
相對(duì)濕度  | 20%-75%(無(wú)冷凝)  | 
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀小型制造質(zhì)檢基礎(chǔ)設(shè)備
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