布魯克輪廓儀：材料表面形貌分析工具

布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500是一款用于材料表面形貌分析的測量工具，適用于工業(yè)檢測和實驗室研究。該產(chǎn)品采用非接觸式光學(xué)干涉技術(shù)，能夠?qū)Χ喾N材料表面進(jìn)行三維形貌測量，包括金屬、陶瓷、聚合物和薄膜等。

ContourX-500的核心部件包括光源模塊、干涉鏡頭、樣品臺和控制系統(tǒng)。光源采用LED白光，配合多波段濾波器，可適應(yīng)不同反射特性的樣品。干涉鏡頭設(shè)計緊湊，支持自動切換物鏡，實現(xiàn)不同放大倍率的測量。樣品臺由鋁合金制成，表面經(jīng)過防腐蝕處理，承重能力為5公斤，移動范圍為100mm x 100mm?？刂葡到y(tǒng)集成運(yùn)動模塊和傳感器，確保測量過程的穩(wěn)定性。

在性能方面，ContourX-500的垂直測量范圍可達(dá)5mm，橫向分辨率取決于物鏡選擇，最高可達(dá)0.35μm。測量速度因掃描模式和區(qū)域大小而異，通常完成一次測量需幾分鐘。重復(fù)性測試顯示，在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下，測量結(jié)果的一致性較好。

參數(shù)表：

• 型號：ContourX-500

• 測量技術(shù)：白光干涉

• 垂直分辨率：0.1nm

• 橫向分辨率：0.35μm至5μm（依物鏡而定）

• 最大掃描范圍：5mm x 5mm x 5mm

• 樣品臺尺寸：200mm x 200mm

• 重量：35kg

• 電源要求：100-240V AC, 50/60Hz

該產(chǎn)品主要用于表面粗糙度分析、薄膜厚度測量、微結(jié)構(gòu)尺寸檢測和磨損評估。在半導(dǎo)體、光學(xué)制造、汽車零部件和材料科研等領(lǐng)域有較多應(yīng)用。

使用前需確認(rèn)設(shè)備水平放置，連接電源和計算機(jī)。開機(jī)后啟動控制軟件，選擇測量模式并設(shè)置參數(shù)。將樣品固定在臺上，調(diào)整焦距和光路，開始掃描。測量完成后，軟件可生成三維圖像和數(shù)據(jù)分析報告。日常維護(hù)包括清潔光學(xué)部件和檢查機(jī)械結(jié)構(gòu)。

ContourX-500的設(shè)計注重實用性和適應(yīng)性，適合多種工業(yè)環(huán)境。

布魯克輪廓儀：材料表面形貌分析工具