探秘布魯克 ContourX-100 三維光學輪廓儀

產(chǎn)品簡介

探秘布魯克 ContourX-100 三維光學輪廓儀
在科研與工業(yè)生產(chǎn)領域，對物體表面微觀特征的精確測量至關重要。三維光學輪廓儀 ContourX-100，作為一款性能出色的測量設備，正逐漸嶄露頭角，為眾多行業(yè)帶來新的測量解決方案。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-22

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：87

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

查看全部產(chǎn)品

Sensofar 三維共焦干涉顯微鏡用于半導體檢測

共聚焦白光干涉儀 | 用于摩擦涂層的表面表征：磨損性能、厚度和粗糙度

Sensofar共聚焦白光干涉儀|對用于后端封裝環(huán)節(jié)

納米級平整的奧秘：CMP技術如何塑造芯片的精密世界?

詳細介紹在線留言

探秘布魯克 ContourX-100 三維光學輪廓儀

在科研與工業(yè)生產(chǎn)領域，對物體表面微觀特征的精確測量至關重要。三維光學輪廓儀 ContourX-100，作為一款性能出色的測量設備，正逐漸嶄露頭角，為眾多行業(yè)帶來新的測量解決方案。

從產(chǎn)品細節(jié)來看，ContourX-100 設計精巧。它采用緊湊的臺式結構，機身尺寸小巧，不會占用過多空間，無論是在實驗室的有限臺面上，還是工廠車間的復雜環(huán)境中，都能輕松安置。儀器外殼材質(zhì)堅固耐用，有效保護內(nèi)部精密組件，減少外界因素干擾。內(nèi)部構造方面，光學元件布局合理，光路設計經(jīng)過精心優(yōu)化，確保光信號穩(wěn)定傳輸，為高精度測量奠定基礎。

在產(chǎn)品性能上，ContourX-100 表現(xiàn)優(yōu)異。其具備出色的二維 / 三維高分辨率測量能力，能清晰呈現(xiàn)物體表面微觀輪廓。通過優(yōu)良的白光干涉（WLI）技術，該設備可實現(xiàn)穩(wěn)定且精準的測量。在不同的放大倍率下，都能保持良好的測量穩(wěn)定性，為用戶提供可靠的數(shù)據(jù)。例如，在測量微小零件表面粗糙度時，能夠精準捕捉到細微的起伏變化，為產(chǎn)品質(zhì)量評估提供關鍵依據(jù)。

說到用材，ContourX-100 毫不含糊。光學鏡片選用優(yōu)質(zhì)光學玻璃，具備高透光率和低像差特性，能保證成像清晰、準確。儀器內(nèi)部的關鍵機械部件采用高強度、耐磨材料制造，確保長期穩(wěn)定運行，減少因部件磨損導致的測量誤差，延長設備使用壽命。

下面來看 ContourX-100 的部分參數(shù)：

參數(shù)類別	具體參數(shù)
最大掃描量程	≤10mm
垂直分辨率	<0.01nm
水平分辨率	0.38μm min（Sparrow 準則）；0.13μm（使用 AcuityXR® 時）
臺階高度準確性	<0.75%
臺階高度重復性	<0.1% 1 sigma 重復性
最大掃描速度	37μm/sec（標準相機）
樣品反射率范圍	0.05% - 100%

ContourX-100 擁有多種型號，以滿足不同用戶的多樣化需求?；A型號適用于常規(guī)表面測量任務，如普通零件的表面粗糙度檢測；進階型號則在功能上有所拓展，例如具備更大的樣品臺尺寸，可測量更大尺寸的樣品，或者增加了自動化測量功能，提高測量效率，適用于大規(guī)模生產(chǎn)線上的質(zhì)量檢測。

該設備用途廣泛。在精密工程領域，可用于監(jiān)測和評估精密零件的表面紋理和幾何尺寸，確保產(chǎn)品符合嚴格的規(guī)格要求；在 MEMS 和傳感器制造中，能夠?qū)ξg刻深度、薄膜厚度、臺階高度等進行高精度測量，助力產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量控制；在醫(yī)療領域，如骨科植入物和眼科器械的生產(chǎn)中，可對相關材料和部件進行精確測量，保障醫(yī)療器械的安全性和有效性。

使用 ContourX-100 也十分便捷。用戶只需將樣品放置在樣品臺上，通過簡單的操作界面設置好測量參數(shù)，如測量范圍、放大倍數(shù)等，設備即可快速啟動測量。測量完成后，系統(tǒng)會自動生成詳細的測量數(shù)據(jù)和直觀的三維圖像，用戶還可利用設備自帶的分析軟件對數(shù)據(jù)進行進一步處理和分析，如計算表面粗糙度參數(shù)、繪制輪廓曲線等。

三維光學輪廓儀 ContourX-100 憑借其出色的產(chǎn)品細節(jié)設計、性能、優(yōu)質(zhì)的用材、豐富的型號選擇、廣泛的用途以及便捷的使用方式，成為眾多行業(yè)進行表面測量的理想之選。它正以可靠的實力，助力科研人員突破技術難題，幫助企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量，在各領域發(fā)揮著重要作用。

探秘布魯克 ContourX-100 三維光學輪廓儀

上一個：ContourX-100布魯克輪廓儀：開啟測量新篇