Sensofar LIN三維光學(xué)輪廓儀：功能解析

選擇測量設(shè)備需要在性能與預(yù)算之間取得平衡。Sensofar LIN系列白光干涉輪廓儀的設(shè)計(jì)理念，正是在保留核心功能的前提下，提供一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用的解決方案，讓更多用戶能夠接觸并使用白光干涉測量技術(shù)。

該產(chǎn)品的細(xì)節(jié)體現(xiàn)在其專注于核心測量功能。它提供了白光干涉模式，適用于從亞納米到毫米級別的臺階高度測量，以及針對光滑表面的形貌分析。這種技術(shù)對于微電子、光學(xué)元件和精密加工領(lǐng)域的許多常規(guī)檢測任務(wù)來說是適用的。

其性能滿足大部分日常檢測需求。它具有不錯(cuò)的測量速度，能在較短時(shí)間內(nèi)完成一個(gè)區(qū)域的掃描和三維重建。設(shè)備的穩(wěn)定性有助于保證測量數(shù)據(jù)的重復(fù)性和 reproducibility，這對于過程質(zhì)量控制尤為重要。

用料方面，LIN系列在關(guān)鍵部件上并未妥協(xié)。它采用了高質(zhì)量的LED光源，壽命長且發(fā)光穩(wěn)定；干涉物鏡經(jīng)過專門設(shè)計(jì)和校正，以確保成像質(zhì)量和測量精度；堅(jiān)固的機(jī)械結(jié)構(gòu)為掃描系統(tǒng)提供了穩(wěn)定的基礎(chǔ)。

LIN系列通常提供基礎(chǔ)型號，用戶可以根據(jù)未來的需求，考慮是否升級物鏡或軟件功能。這種靈活的配置方式為用戶提供了根據(jù)自身發(fā)展階段進(jìn)行投資的可能性。

其用途主要面向工業(yè)界的質(zhì)控環(huán)節(jié)。例如：

• PCB行業(yè)的焊膏厚度測量。

• 金屬加工表面的粗糙度評定。

• 小型光學(xué)元件的曲率半徑和面形分析。

• 材料涂層或鍍膜的厚度測量。

使用說明流程清晰。操作員經(jīng)過基本培訓(xùn)后，即可完成放置樣品、選擇測量點(diǎn)位、啟動(dòng)自動(dòng)測量、查看結(jié)果報(bào)告等一系列操作。軟件的自動(dòng)化功能減少了人為干預(yù)，降低了操作難度和結(jié)果的不確定性。

對于尋求將三維表面測量技術(shù)引入其質(zhì)量體系的中小型企業(yè)或教育機(jī)構(gòu)，LIN系列展現(xiàn)出了其應(yīng)用價(jià)值。

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