布魯克白光干涉儀輪廓儀整體結(jié)構(gòu)與設(shè)計理念

產(chǎn)品簡介

布魯克白光干涉儀輪廓儀整體結(jié)構(gòu)與設(shè)計理念
ContourX-100三維光學輪廓儀的操作流程需遵循標準化步驟，以保證測量數(shù)據(jù)的可靠性。設(shè)備型號為ContourX-100，開機前需確認環(huán)境條件：建議放置在水平工作臺面，避免強光直射與劇烈振動，因設(shè)備雖具備集成防震設(shè)計，但極環(huán)境仍可能影響測量穩(wěn)定性。

產(chǎn)品型號：ContourX-100

更新時間：2025-10-23

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：75

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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布魯克白光干涉儀輪廓儀整體結(jié)構(gòu)與設(shè)計理念

ContourX-100三維光學輪廓儀采用流線型臺式設(shè)計，整體結(jié)構(gòu)圍繞白光干涉（WLI）測量核心展開，兼顧測量穩(wěn)定性與空間適配性。設(shè)備型號為ContourX-100，外觀尺寸控制在330mm×330mm×550mm，重量不足18kg，這種緊湊化設(shè)計源于對實驗室與工廠場景的深度適配——既可嵌入生產(chǎn)線旁的檢測工位，也能在實驗室工作臺實現(xiàn)多設(shè)備協(xié)同擺放。

其結(jié)構(gòu)設(shè)計遵循 “精簡不減能" 原則，在縮小體積的同時保留了完整的 2D/3D 測量功能，這得益于布魯克對光學組件布局的優(yōu)化：將干涉模塊、成像系統(tǒng)與載物臺集成于一體化機殼，減少了外部結(jié)構(gòu)對光學路徑的干擾。機殼采用高強度合金材料，表面經(jīng)過防腐蝕處理，可應(yīng)對工廠車間的潮濕、粉塵環(huán)境，延長設(shè)備使用壽命。

布魯克白光干涉儀輪廓儀整體結(jié)構(gòu)與設(shè)計理念

二、核心硬件組件與用材

（一）光學測量模塊

光學模塊是設(shè)備的核心，其中干涉鏡頭采用高精度光學玻璃材質(zhì)，經(jīng)過多層鍍膜處理，可減少光線反射損耗，提升干涉信號的清晰度。白光光源選用長壽命 LED 器件，外殼采用散熱性能良好的鋁合金材質(zhì)，配合內(nèi)置散熱片設(shè)計，避免光源發(fā)熱影響測量穩(wěn)定性，其使用壽命可達數(shù)萬小時，降低了后期更換成本。

500 萬像素攝像頭采用彩色 CCD 傳感器，封裝外殼為工程塑料與金屬混合結(jié)構(gòu)，既保證了輕量化，又能屏蔽外部電磁干擾。攝像頭與干涉模塊的連接采用剛性支架固定，支架材質(zhì)為不銹鋼，可有效減少振動導致的光學偏移，這也是設(shè)備能實現(xiàn)穩(wěn)定測量的重要基礎(chǔ)。

（二）掃描與驅(qū)動系統(tǒng)

縱向掃描裝置的核心是閉環(huán)反饋壓電陶瓷，其材質(zhì)具有高剛性與低遲滯特性，能實現(xiàn) 0.1nm 級的精密位移控制。壓電陶瓷組件封裝于金屬保護殼內(nèi)，填充緩沖材料，可吸收外部振動，配合設(shè)備整體的集成防震設(shè)計，進一步提升了測量重復性。

載物臺作為樣品承載核心，臺面采用耐磨陶瓷材料，表面平整度誤差小于 0.01mm，可避免樣品放置時的傾斜偏差。載物臺的運動導軌選用高精度滾珠絲杠結(jié)構(gòu)，導軌材質(zhì)為軸承鋼，經(jīng)過淬火處理，表面粗糙度低于 Ra 0.2μm，確保手動調(diào)節(jié)時的順暢性與定位準確性。四向傾斜調(diào)整旋鈕采用工程塑料材質(zhì)，表面設(shè)有防滑紋路，兼顧操作手感與結(jié)構(gòu)強度。

（三）電路與軟件集成模塊

設(shè)備內(nèi)部電路采用模塊化設(shè)計，主控板、電源模塊與信號處理板通過屏蔽線連接，屏蔽層材質(zhì)為銅網(wǎng)，可降低電路間的信號干擾。電源模塊選用寬電壓輸入設(shè)計，適配 100-240V 交流電源，內(nèi)部采用過載保護元件，提升了設(shè)備在電壓波動環(huán)境下的安全性。

軟件系統(tǒng)運行于嵌入式硬件平臺，存儲模塊采用工業(yè)級固態(tài)硬盤，材質(zhì)為防震外殼封裝，可應(yīng)對移動搬運過程中的沖擊。VisionXpress™與 Vision64® 軟件的界面設(shè)計基于用戶習慣優(yōu)化，操作按鈕布局清晰，配合觸摸屏（可選配）可實現(xiàn)直觀操作，減少了培訓成本。

三、結(jié)構(gòu)設(shè)計與性能的關(guān)聯(lián)

結(jié)構(gòu)設(shè)計對設(shè)備性能的影響體現(xiàn)在多個維度：剛性機殼與不銹鋼支架的組合，使設(shè)備在反射率 0.05% 至 100% 的樣品測量中，能保持光學路徑的穩(wěn)定性，避免信號漂移；壓電陶瓷與滾珠絲杠的高精度用材，直接支撐了 Z 軸分辨率與載物臺定位的可靠性。

此外，設(shè)備的可擴展性設(shè)計也體現(xiàn)了結(jié)構(gòu)優(yōu)勢：物鏡炮塔支持 4 個物鏡的自動切換，無需拆卸硬件即可更換測量倍率；Color Imaging 功能可通過軟件 license 升級，無需改動光學結(jié)構(gòu)，這種 “硬件預(yù)留 + 軟件升級" 的設(shè)計，為用戶提供了靈活的功能擴展路徑。

四、結(jié)構(gòu)維護與保養(yǎng)要點

針對不同材質(zhì)組件的維護需求，需采取差異化措施：光學鏡頭應(yīng)使用專用鏡頭紙擦拭，避免硬物劃傷鍍膜；金屬載物臺可定期用無水乙醇清潔，防止樣品殘留腐蝕臺面；電路模塊需每年由專業(yè)人員打開機殼除塵，避免灰塵堆積導致短路。

布魯克提供的安裝調(diào)試培訓中，會包含結(jié)構(gòu)維護的專項內(nèi)容，用戶可通過培訓掌握組件檢查方法，如判斷導軌潤滑狀態(tài)、檢測壓電陶瓷響應(yīng)速度等。合理的結(jié)構(gòu)保養(yǎng)能充分發(fā)揮設(shè)備用材的性能優(yōu)勢，延長核心組件的使用壽命，確保設(shè)備長期保持穩(wěn)定的測量表現(xiàn)。

布魯克白光干涉儀輪廓儀整體結(jié)構(gòu)與設(shè)計理念

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