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BX53P顯微鏡偏光檢測:看清樣品的隱藏細節(jié)



產(chǎn)品簡介
BX53P顯微鏡偏光檢測:看清樣品的隱藏細節(jié)在地質、材料、生物等領域的微觀研究中,普通顯微鏡難以區(qū)分各向同性與各向異性樣品的內部結構,而奧林巴斯 BX53P 專業(yè)偏光顯微鏡憑借精準的偏光技術,能清晰呈現(xiàn)樣品的光學特性,挖掘肉眼不可見的細節(jié)。
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BX53P顯微鏡偏光檢測:看清樣品的隱藏細節(jié)
參數(shù)類別 | 參數(shù)內容 |
光學系統(tǒng) | UIS2 無限遠校正光學系統(tǒng) |
物鏡倍數(shù) | 4×、10×、20×、40×、100× |
偏光組件 | 可旋轉起偏器、檢偏器 |
光源類型 | LED 透射光源(壽命≥10000 小時) |
載物臺尺寸 | 188mm×134mm,移動范圍 76mm×52mm |
適用樣品類型 | 巖石薄片、高分子材料、生物切片等 |
樣品準備:將樣品(如巖石薄片、塑料薄膜)平穩(wěn)放置在載物臺中心,用壓片固定,確保樣品表面無污漬;
設備調試:打開電源,調節(jié)光源亮度至合適水平;根據(jù)樣品類型選擇對應倍數(shù)的物鏡,通過粗調旋鈕下降鏡筒至接近樣品,再用微調旋鈕清晰對焦;
偏光觀測:旋轉起偏器至指定角度(通常與檢偏器呈 90°),觀察樣品的干涉色與結構特征,可通過調節(jié)載物臺角度進一步分析樣品的光學特性;
圖像記錄:若需保存觀測結果,可連接相機組件,通過配套軟件拍攝圖像并導出,支持后續(xù)分析與報告制作。

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