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澤攸
ZEM20 pro澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術(shù)探討
                    
產(chǎn)品簡介
                澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術(shù)探討樣品制備是掃描電鏡觀察的重要環(huán)節(jié)。澤攸ZEM20 Pro臺式掃描電鏡的樣品制備方法根據(jù)樣品特性有所不同。
產(chǎn)品分類
澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術(shù)探討樣品制備是掃描電鏡觀察的重要環(huán)節(jié)。澤攸ZEM20 Pro臺式掃描電鏡的樣品制備方法根據(jù)樣品特性有所不同。
導(dǎo)電樣品的制備相對簡單。通常只需將樣品固定在樣品臺上,確保良好的電接觸即可。對于尺寸較小的樣品,可以使用導(dǎo)電膠固定,避免觀察過程中樣品移動。
非導(dǎo)電樣品需要特殊處理。傳統(tǒng)的噴金方法可以增加樣品表面的導(dǎo)電性,避免荷電效應(yīng)。ZEM20 Pro的低真空模式為非導(dǎo)電樣品觀察提供了另一種選擇,部分樣品可以不噴金直接觀察。
生物樣品制備較為復(fù)雜。常規(guī)制樣包括固定、脫水、干燥等步驟。臨界點干燥法可以更好地保持樣品結(jié)構(gòu),但操作較為復(fù)雜。選擇何種制樣方法需要根據(jù)研究目的決定。
粉末樣品的制備需要注意分散性。將粉末均勻分散在樣品臺上,避免團聚影響觀察效果??梢允褂眠m當(dāng)?shù)姆稚┹o助分散,但要注意分散劑不能影響觀察。
易損傷樣品需要特別小心。例如某些高分子材料在電子束照射下容易損傷,需要降低束流強度,縮短觀察時間。這些措施有助于減少對樣品的損傷。
特殊樣品的制備可能需要專門技術(shù)。例如需要觀察樣品截面時,要制備出平整的斷面。根據(jù)不同樣品特性,可以選擇合適的制樣方法,獲得所需的觀察效果。澤攸高分辨率掃描電鏡制備技術(shù)探討
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