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澤攸TEM原位方案(樣品桿)
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澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng),原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力、熱、光、電等)。
更新時間:2025-10-21
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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
更新時間:2025-10-20
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PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng),采用全新的O圈輔助密封設(shè)計,更易封裝液體。
更新時間:2025-10-20
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PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng),在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境,實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
更新時間:2025-10-20
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:942
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征,大大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
更新時間:2025-10-20
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瀏覽量:1151
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征,大大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
更新時間:2025-10-20
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